다음은, 국제에너지기구IEA Internatioal Energy Agency)가 발행한 ”태양광 모듈 불량에 대한 검토’ 논문에서 발췌한 것입니다. 1) 장주기 고장 패턴 그림 3.1: 웨이퍼 기반 결정질실리콘 모듈의 세 가지 일반적인 불량 시나리오. 사용된 약어의 정의 : LID : 광유도 열화, PID : 퍼텐셜유도 열화, EVA : 에틸렌 비닐아세테이트, j-box : 정션 박스. 2) 패널 부품 패널 구성요소(components)와 다양한…
다음은, 2020년도 ‘한국조명전기설비학회논문지’의 일부 내용입니다. “… 본 연구에서는 PV모듈의 고장유형을 박리(Delamination) 와 균열(Crack), 달팽이흔적(Snail Tracks), 핫스팟 (Hotspot), 바이패스 다이오드(Bypass Diode) 고장, PID(Potential-Induced Degradation)로 분류하였다. 박리는 공정 결함, 공정 전 EVA(Ethylene Vinyl Acetate) 보관 문제, 열, 습기에 의해 발생되고, 균열은 생산·운송·설치 중 발생하거나 우박, 적설, 태풍에 의 해 발생된다. 달팽이 흔적은 공정 결함과 균열된 부분에 수분이…
